使用臺式硫酸鹽測定儀時，操作細節的疏忽可能導致測定結果偏差或儀器損壞，掌握避坑要點對保證檢測質量至關重要。以下從操作全流程梳理常見風險及規避方法。

一、準備階段需警惕試劑與器具隱患

試劑方面，需確認標準溶液濃度與保質期，避免使用渾濁、沉淀或超過有效期的試劑，同時注意試劑儲存條件是否符合要求，防止因試劑變質影響測定基線。比色皿的處理易被忽視，需避免用手直接接觸透光面，清洗后若殘留水分需用鏡頭紙吸干而非擦拭，防止刮傷透光層；若測定含腐蝕性成分的樣品，需選用耐腐蝕性材質的比色皿，避免器皿破損導致溶液泄漏。

二、開機與預熱環節的核心是避免干擾穩定狀態

儀器接通電源后，需等待自檢程序完全結束再進行操作，不可中途強制中斷或重復開關機，否則可能導致內部程序紊亂。預熱期間應保持儀器周圍環境穩定，遠離強電磁場、熱源及氣流波動區域，同時避免頻繁開關實驗室空調或風扇，防止溫度驟變影響光學系統穩定性。需嚴格遵循說明書規定的預熱時長，不可擅自縮短或延長。

三、校準操作的避坑關鍵在于規范流程

空白校準前需確保空白溶液配制準確，避免因蒸餾水純度不足或試劑殘留導致空白值異常。注入比色皿時需緩慢操作，若產生氣泡應更換溶液重新注入，不可直接敲擊比色皿試圖消除氣泡，以免影響液面平整度。標準溶液測定需按濃度梯度依次進行，每測完一種濃度需用下一種溶液潤洗比色皿至少 3 次，避免交叉污染。校準完成后需檢查標準曲線相關系數，若不符合要求應重新校準，不可直接用于樣品測定。

四、樣品測定階段需防范操作誤差

樣品溶液需經預處理至澄清狀態，避免懸浮顆粒堵塞光路或吸附光線。測定時比色皿放置方向需與校準一致，確保透光面正對光路，若放置反方向會導致吸光度異常。同一樣品需進行平行測定時，應使用同一批次處理的樣品溶液，避免因分取量差異或放置時間過長導致結果偏差。若測定過程中儀器出現數值跳變，應先檢查樣品溶液是否變質，排除后再重啟儀器重新測定，不可直接記錄異常數據。

五、收尾工作的避坑重點在于儀器維護

關機前需先退出測定程序，待儀器回到待機狀態后再切斷電源，避免強制關機損壞內部電路。比色皿清洗后需倒置晾干，不可使用烘箱烘干，防止高溫變形影響精度。試劑需按類別分開儲存，揮發性試劑需密封保存，避免與其他試劑發生化學反應。儀器表面清潔需使用中性清潔劑，不可用有機溶劑擦拭控制面板，防止腐蝕按鍵或顯示屏。

全程操作需集中注意力，每一步驟完成后進行簡單核查，及時發現并糾正潛在問題，才能有效規避風險，保證測定結果的可靠性與儀器的使用壽命。