紅外測油儀的故障多表現(xiàn)為吸光度異常、基線漂移或檢測結(jié)果偏差,需按 “由簡到繁、先外后內(nèi)” 原則排查 —— 先排除樣品預處理、操作規(guī)范等外部因素,再檢查儀器光學系統(tǒng)、電路等內(nèi)部部件,具體方法如下: 一、吸光度異常(無讀數(shù)、負值或偏高)排查 吸光度是檢測核心數(shù)據(jù),異常多與光路遮擋、污染或比色皿問題相關(guān),排查步驟: 1、基礎(chǔ)檢查(優(yōu)先排除) 比色皿問題:取出比色皿,檢查是否有氣泡(傾斜靜置排出)、透光面是否有劃痕或污漬(用無水乙醇擦拭后重新檢測);確認比色皿型號匹配(如光程 1cm 需對應(yīng)儀器設(shè)置,誤用 5cm 皿會導致吸光度偏高 5 倍)。 樣品室污染:打開樣品室,檢查光路窗口是否有灰塵、指紋或液滴(用無塵布蘸無水乙醇擦拭,晾干后重試);若有玻璃碎片(舊皿破損殘留),需用軟毛刷清理并更換新皿。 2、光路系統(tǒng)排查 光源是否點亮:開機后觀察光源指示燈(或通過樣品室觀察口確認),若不亮,檢查電源線連接(插座是否通電、插頭是否松動),仍無反應(yīng)則可能是光源模塊損壞(需更換)。 光路對齊:若吸光度忽高忽低,可能是比色皿槽定位松動(放入比色皿后輕推是否晃動),調(diào)整卡扣位置至穩(wěn)固;高端儀器可通過自檢功能查看光路對齊度(偏差超 0.5° 需廠家校準)。 二、基線漂移(空白吸光度波動大)排查 基線漂移(如 30 分鐘內(nèi)空白吸光度波動>0.005Abs)會導致檢測重復性差,需從環(huán)境、儀器預熱和溶劑方面排查: 1、環(huán)境與操作因素 溫度波動:確認儀器放置環(huán)境(避免靠近空調(diào)出風口或陽光直射),室溫需穩(wěn)定在 20-25℃(溫差>5℃會導致基線漂移),可加裝恒溫罩改善。 預熱不足:開機后需預熱 30 分鐘(光源穩(wěn)定需時間),若提前檢測(如僅預熱 10 分鐘),基線易漂移,延長預熱時間后重試。 2、溶劑與校準問題 溶劑純度:檢測純萃取溶劑(如四氯化碳)的空白吸光度,若>0.020Abs,說明溶劑污染(含殘留油分),需更換新溶劑或蒸餾提純。 校準失效:重新進行空白校準(用純?nèi)軇┱{(diào)零),若校準后仍漂移,檢查校準用比色皿是否潔凈(需專用空白皿,避免與樣品皿混用污染)。 三、檢測結(jié)果偏差(與標樣值不符)排查 結(jié)果偏差多因標準曲線失效、萃取不完全或干擾物質(zhì)影響,排查需結(jié)合前處理和儀器校準: 1、標準曲線與標樣問題 曲線失效:重新繪制標準曲線(濃度 0.1-100mg/L),若線性相關(guān)系數(shù) R2<0.999,檢查標樣是否過期(低濃度標樣易降解)、移液是否準確(用校準過的移液管重新配制)。 標樣污染:檢測已知濃度的質(zhì)控樣(如 10mg/L),若結(jié)果偏低,可能是標樣被稀釋(檢查儲存容器是否漏液)或被高濃度樣品污染(更換新標樣重試)。 2、樣品預處理問題 萃取不完全:若水樣乳化(萃取后分層不清),需增加震蕩時間(或加少量氯化鈉破乳),重新萃取后檢測;低濃度樣品需確認是否富集(如濃縮步驟遺漏會導致結(jié)果偏低)。 干擾物質(zhì):若樣品含硫化物、高鐵離子(此前未處理),檢測時會生成沉淀或顯色物質(zhì),需重新處理樣品(加過氧化氫或 EDTA 消除干擾)。 四、儀器硬件故障(反復排查后仍異常) 排除外部因素后,需檢查內(nèi)部核心部件,此類故障需專業(yè)操作: 1、光學部件故障 單色器問題:若特定波長(如 2930cm?1)吸光度異常,可能是單色器分光不準(用標準濾光片校準,偏差超 2cm?1 需廠家維修)。 檢測器老化:長期使用后檢測器靈敏度下降(表現(xiàn)為高濃度樣品吸光度飽和),需更換檢測器并重新校準。 2、電路與軟件故障 電路接觸不良:檢查儀器內(nèi)部連接線(如光源、檢測器插頭)是否松動(斷電后重新插拔并固定),若有氧化痕跡(銅片發(fā)黑),用無水乙醇擦拭。 軟件程序錯誤:重啟儀器后若仍報錯(如 “通訊失敗”),重裝操作軟件(需匹配儀器型號),或恢復出廠設(shè)置后重新校準。 五、排查注意事項 安全操作:涉及內(nèi)部部件檢查需先斷電(避免觸電),更換光源、檢測器等需戴防靜電手環(huán)(防止靜電損壞元件)。 記錄與追溯:每次排查需記錄故障現(xiàn)象、操作步驟及結(jié)果(如 “更換比色皿后吸光度恢復正?!保?,便于后續(xù)同類問題快速解決。 專業(yè)支持:硬件故障(如單色器、主板損壞)不可自行拆解,需聯(lián)系廠家(提供故障記錄和儀器型號,提高維修效率)。 通過以上步驟,可解決 80% 以上的常見故障,核心是 “先確認操作規(guī)范和樣品狀態(tài),再逐步聚焦儀器本身”,避免因誤判硬件問題導致不必要的維修成本。
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